1、测量并计算芯片的共面性、锡球高度、平面度 2、协助产线实现信息化、自动化:产品条码绑定检测数据,对接工厂MES等系统,自动计算GRR与CPK,区分良品与不良品 3、可设置“测平面度加编带”“直接编带”“测平面度”三种模式
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1、测量并计算芯片的共面性、锡球高度、平面度 2、协助产线实现信息化、自动化:产品条码绑定检测数据,对接工厂MES等系统,自动计算GRR与CPK,区分良品与不良品 3、可设置“测平面度加编带”“直接编带”“测平面度”三种模式
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